Структуроскоп предназначен для неразрушающего контроля изделий из немагнитных сплавов на основе алюминия или меди при помощи измерения их удельной электрической проводимости.
Сортировка изделий по приращению удельной электрической проводимости и контроль различных механических характеристик электропроводящих неферромагнитных материалов при наличии экспериментально установленных корреляционных связей между удельной электропроводимостью и этими характеристиками.

Отличительные особенности.

Встроенный термометр позволяет учесть влияние температуры окружающей среды и повысить точность измерения. Встроенная память сохраняет 4096 результатов измерении удельной электрической проводимости для последующей передачи на ПК.

Технические характеристики.

Диапазон измерений абсолютного значения удельной электрической проводимости, МСм/м      от 5 до 60

Диапазон измерений приращений удельной электрической проводимости, МСм/м    от -9,99 до +9,99

Предел допускаемой основной относительной погрешности измерений, %                   не более  2

Допустимый зазор между преобразователем и поверхностью контролируемого изделия, мм, не более    0,25

Индикация результатов измерений     цифровая

Электропитание от батареи типа РРЗ, В      9

Потребляемая мощность, мВт, не  более      40

Диапазон рабочих температур, °С       5…40

Габариты, мм      57*84*30

Масса, г         270±20

Руководство

Сертификат