Основное назначение тестера микросхем – параметрический, динамический и функциональный контроль цифровых и цифро-аналоговых микросхем на частотах до 200 МГц. Основу Комплекса составляет набор универсальных плат, выполненных по технологии «тестер-на-канал».

Подобная архитектура тестера микросхем позволяет получить максимум измерительных возможностей при минимальном времени контроля и затратах на изготовление измерительной оснастки.
В состав Комплекса может входить до 12-ти  универсальных плат, общим количеством выводов до 768-ми, а также специализированные платы для контроля компонентов смешанного сигнала.
Дополнительно к базовым возможностям в системе могут быть реализованы заданные алгоритмы тестирования структур памяти (галоп, марш, шахматы и др.)

Области применения тестера микросхем:

• Выходной контроль параметров интегральных микросхем (в корпусе и на полупроводниковой пластине) на производстве и в лабораторных условиях
• Входной контроль параметров интегральных микросхем на предприятиях-потребителях
• Научно-исследовательские работы, контроль граничных параметров изделий микроэлектроники
• Образовательный процесс, изучение принципов работы микроэлектроники и тестового оборудования

Отличительные особенности:

• Высокая производительность – за счет современной архитектуры «тестер-на-канал» и широких возможностей параллельного контроля
• Универсальность – контроль как цифровых, так и цифро-аналоговых схем
• Гибкость – конфигурация тестера может легко изменяться и наращиваться при необходимости
• Измерительная часть тестера выполнена с применением последних технологий в области компонентой базы
• Простота создания тестовых последовательностей
• Простота в эксплуатации и обслуживании

Возможность непосредственной стыковки («жёсткая» стыковка) с автоматическими загрузчиками изделий (зондовые установки, проходные камеры и др.)

Технические характеристики:

• Количеств измерительных каналов: 768 (до 12 плат по 64 канала)
• Максимальная частота следования тестовых векторов: 400 Mbps
• Дискретность задания временных параметров: 39 пс
• Количество временных меток на канал: 4 или 8 (в режиме мультиплексирования)
• Максимальное рассогласование каналов: ±250 пс (пикосекунд)
• Глубина памяти тестовых векторов на канал: 128 Мбит (расширение до 256 Мбит)
• Диапазон задания напряжения: — 2 … +6 В (или 0… +8 В)
• Максимальная потребляемая мощность: 4 кВт (киловатт)
• Система охлаждения: воздушная
• Сжатый воздух/вакуум для тестера микросхем не требуется