Модель TR-17VIP – это комбинированная тестовая система, предназначенная для аналогового и цифрового тестирования сложных электронных модулей в производстве.

Функциональные возможности:

• внутрисхемное аналоговое тестирование: коротких замыканий (КЗ) и обрывов цепей, номиналов резисторов, конденсаторов и индуктивностей, установленных полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, транзисторов), трансформаторов, включая согласование обмоток, установленных микросхем по входным защитным диодам, качества пайки микросхем емкостным методом и т.д.
• внутрисхемное цифровое тестирование: контроль цифровых микросхем на соответствие таблице истинности. Для исключения влияния параллельно установленных микросхем (например при наличии шинной технологии) на вход тестируемой микросхемы подаются импульсы большого тока с ограниченной длительностью (backdriving — принудительный перевод логики в нужное логическое состояние).

Максимальное количество гибридных тестовых каналов (аналоговых/цифровых) системы — 1536 (с шагом, кратным 64). Система может работать с пиновыми адаптерными устройствами типа «поле контактов» (bed-of-nails) различных конструкций — механическими, пневматическими и вакуумными.

В тестер по модульному принципу могут быть добавлены функциональные модули источников питания, генераторов частоты, программируемых резистивных нагрузок, счетчика импульсов, контроллера динамического цифрового тестирования, а также дополнительные мультиплексирующие, релейные и цифровые модули.

Для функционального тестирования, к тестовой системе, через дополнительный модуль IEEE 488, можно подключить внешние приборы, обеспечивающие наибольшую точность измерений – блоки питания, генераторы, частотомеры, осциллографы, мультиметры и другие. Это позволяет объединить их в единый программно-аппаратный комплекс.

Поставляемое с системой Модель TR-17VIP программное обеспечение VIVA работает под управлением операционных систем Windows 7 или Windows XP.

Специализированное программное обеспечение тестера имеет модульную структуру и включает в себя:

• генератор тестовых программ и библиотек для аналогового внутрисхемного тестирования,
• генератор тестовых программ для тестирования КЗ/обрывов,
• модули DGT и DIG для внутрисхемного цифрового тестирования, включая набор библиотек компонентов,
• модуль функционального программирования;
• модуль накопления и обработки статистики,
• модуль самодиагностики;
• трансляторы из систем САПР и т.д.