Архивы рубрики ‘Технологическое оборудование’

Локализатор неисправностей SFL1500

Локализатор неисправностей SFL1500

Работа локализатора неисправностей приборов основана на использовании метода аналогового сигнатурного анализа (ASA), иногда этот метод называют VI (напряжение — ток). Локализатор неисправностей имеет собственную память на 128 сигнатур. Локализатор неисправностей  (Аналоговый сигнатурный анализатор) SFL1500 Область применения прибора Локализатор неисправностей (Аналоговый […]

Инструментальное шасси SFX

Инструментальное шасси SFX

Специализированное шасси SFX предназначено для построения универсальных, многоканальных систем функционального тестирования электронных модулей, а также систем сбора данных и управления технологическим процессом, комплексного испытания интегральных схем. Широкий спектр инструментальных модулей позволяют создавать на базе шасси SFX наращиваемые функциональные тестеры, адаптированные […]

Модуль программируемых нагрузок SGEN

Модуль программируемых нагрузок SGEN

Модуль программируемых нагрузок SGEN предназначен для формирования прямоугольных импульсов заданной частоты в диапазоне от 1 до 75 000 Гц и задания нагрузок, позволяющих имитировать резистивную нагрузку в диапазоне от 0.5 до 120 кОм. Модуль программируемых нагрузок SGEN предназначен для имитации […]

Модуль реле Sovtest

Модуль реле Sovtest

Модуль реле предназначен для программной коммутации входных и выходных сигналов с помощью реле и конструктивно занимает одно посадочное место в инструментальном шасси SFX. Модуль построен на реле, управляемых командами тестового контроллера. Программное обеспечение поставляемое вместе с модулем реле, представляет собой […]

Тестовые адаптеры типа «Краевой разъем»

Тестовые адаптеры типа «Краевой разъем»

Тестовые адаптеры предназначены для сопряжения тестового оборудования с проверяемым изделием, обеспечивают электрическое контактирование с тестируемым изделием и его механическую фиксацию на время тестирования. Тестовые адаптеры используются для проверки компонентов, печатных плат и электронных изделий. Адаптер типа «краевой разъем» используется для […]

Тестовые адаптеры типа «Поле контактов»

Тестовые адаптеры типа «Поле контактов»

Тестовые адаптеры предназначены для сопряжения тестового оборудования с проверяемым изделием, обеспечивают электрическое контактирование с тестируемым изделием и его механическую фиксацию на время тестирования. Тестовые адаптеры используются для проверки компонентов, печатных плат и электронных изделий. Адаптеры типа «Поле контактов» используются для […]

Стенд для проверки автомобильных жгутов STC-1000

Стенд для проверки автомобильных жгутов STC-1000

Стенд для проверки автомобильных жгутов STC-1000 предназначен для проверки электрических параметров и геометрии автомобильных жгутов. В состав стенда для проверки автомобильных жгутов входят: тестер проводного монтажа ПК с клавиатурой, монитором и принтером, стол функционального тестирования с полем для установки тестовых […]

Тестер проводного монтажа W434R

Тестер проводного монтажа W434R

Тестер проводного монтажа W434R предназначен для обнаружения и локализации дефектов проводного монтажа, жгутов и кабелей, а также для функционального контроля компонентов. Высокоскоростной измеритель позволяет в автоматическом режиме проверять тестируемые изделия на соответствие таблице соединений, измерять качество соединений, проверять качество изоляции […]

Функциональный тестер FT-17

Функциональный тестер FT-17

Комплекс измерительный FT-17 предназначен для проведения функционального контроля электронных модулей различного назначения и вариантов исполнения. Функциональный тестер представляет собой мощную универсальную систему функционального контроля различного вида электронных изделий. Сочетая в себе широкий набор измерительных возможностей, гибкость и достаточно быструю переналаживаемость […]

TR-17VIP — внутрисхемный тестер (ICT) с адаптерами «поле контактов»

TR-17VIP - внутрисхемный тестер (ICT) с адаптерами «поле контактов»

Модель TR-17VIP – это комбинированная тестовая система, предназначенная для аналогового и цифрового тестирования сложных электронных модулей в производстве. Функциональные возможности: внутрисхемное аналоговое тестирование: коротких замыканий (КЗ) и обрывов цепей, номиналов резисторов, конденсаторов и индуктивностей, установленных полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, транзисторов), […]

62 queries in 0,286 seconds.